用於氣體輸送的方法及設備
专利摘要:
本文揭示用於氣體輸送的方法及設備。在一些實施例中,氣體輸送系統包括:安瓿,該安瓿用於儲存固態或液態前驅物;第一導管,該第一導管耦接至該安瓿且該第一導管具有第一末端,該第一末端耦接至第一氣源以將前驅物的蒸氣從安瓿中抽取到第一導管中;第二導管,該第二導管在位於安瓿下游的第一接合處耦接至第一導管且該第二導管具有第一末端及第二末端,該第一末端耦接至第二氣源且該第二末端耦接至處理腔室;及熱源,該熱源經配置以加熱安瓿及從安瓿至第二導管的第一導管的至少第一部分並且僅加熱第二導管的第二部分,其中該第二導管的第二部分包括第一接合處。 公开号:TW201303070A 申请号:TW101113979 申请日:2012-04-19 公开日:2013-01-16 发明作者:Zhi-Yuan Ye;Yihwan Kim 申请人:Applied Materials Inc; IPC主号:C23C16-00
专利说明:
用於氣體輸送的方法及設備 本發明之實施例大體係關於用於氣體輸送的方法及設備,且更特定言之,本發明之實施例係關於具有低蒸氣壓之氣體的輸送。 將固態或液態的低蒸氣壓前驅物遠程輸送至處理腔室需要加熱安瓿及長氣管,該安瓿容納低蒸氣壓前驅物,該長氣管將汽化的低蒸氣壓前驅物載運至處理腔室以(例如)使基板暴露於該前驅物。然而,長氣管的加熱/隔離易失敗且經常難以維持。此外,發明人注意到前驅物的遠程輸送亦可能具有慢反應速率,據信該慢反應速率歸因於氣管體積及自安瓿的前驅物的有限流動速率。發明人已進一步注意到此種加熱輸送系統亦需要上游質量流量控制器(MFC)以控制氣體流動速率,以避免該MFC內部的任何凝結問題。然而,將MFC定位於安瓿之上游使得該安瓿對下游氣壓波動很敏感,此影響前驅物的輸送準確度。 因此,發明人在此提供用於低蒸氣壓前驅物的氣體輸送的改良方法及設備。 本文揭示用於氣體輸送的方法及設備。在一些實施例中,氣體輸送系統包括安瓿,該安瓿用於儲存固態或液態前驅物;第一導管,該第一導管耦接至安瓿,且該第一導管具有第一末端,該第一末端耦接至第一氣源以將前驅物的蒸氣從安瓿中抽取到第一導管中;第二導管,該第二導管在位於安瓿下游的第一接合處耦接至第一導管,且該第二導管具有第一末端及第二末端,該第一末端耦接至第二氣源且該第二末端耦接至處理腔室;及熱源,該熱源經配置以加熱安瓿以及從該安瓿至第二導管的第一導管的至少第一部分,並且僅加熱第二導管的第二部分,其中第二導管的第二部分包括第一接合處。 在一些實施例中,將前驅物輸送至處理腔室的方法包括以下步驟:當使第一氣體流動時,汽化前驅物以在第一加熱容積中形成濃縮前驅物氣體混合物;在第二加熱容積中將濃縮前驅物氣體混合物與第二氣體混合以形成稀釋前驅物氣體混合物,其中在大約25攝氏溫度下,稀釋前驅物氣體混合物中的前驅物的分壓小於該前驅物之蒸氣壓;及使稀釋前驅物氣體混合物經由非加熱第三容積流動至處理腔室。 本發明之其他及進一步實施例描述如下。 本文揭示用於氣體輸送的方法及設備。本發明之方法及設備有利地提供了固態或液態的低蒸氣壓前驅物的高效率汽化及輸送精確性,同時減少了能量輸入成本並改良了輸送速率。例如,本發明之實施例中的氣體輸送系統可能需要僅加熱載運汽化前驅物的導管的一部分。此外,本發明之一些實施例中的氣體輸送系統有利地考慮到流量控制裝置,諸如質量流量控制器或類似裝置,流量控制裝置設置在汽化前驅物的下游,此是由於在輸送期間前驅物發生凝結的有限可能性。以下論述本發明的方法及設備之其他及進一步實施例以及優勢。 第1A圖至第1B圖描繪根據本發明之至少一些實施例的氣體輸送系統100。氣體輸送系統100可包括用於儲存固態或液態前驅物的安瓿102。例如,前驅物可以是用於諸如沈積製程或類似製程中的任何適合的低蒸氣壓前驅物。示範性前驅物可包括二氯矽烷(DCS)、三氯矽烷(TCS)、四氯化碳(CCl4)或類似物。第一導管104可耦接至安瓿102。第一導管104可包括耦接至第一氣源108的第一末端106。如第1A圖中所示,第一氣源108設置在安瓿102的上游。第一導管104可用來將前驅物的蒸氣自安瓿抽取至第一導管104中。 舉例而言,如第2A圖至第2B圖中所示,第一導管104之各種實施例是可能的。例如,當使用液態前驅物時,第一導管104可耦接至安瓿102以便第一導管進入安瓿102的容積中且第一導管104具有設置在該液態前驅物表面下方之末端202,以便第一氣體可以作泡狀穿過前驅物以在氣流內載運前驅物的蒸氣及/或小滴。如第2A圖中所示,第二末端204可設置在液態前驅物上方以接收該第一氣體及前驅物(末端204)之濃縮前驅物氣體混合物。或者,第一末端202可設置在液體前驅物表面的上方。 或者,如第2B圖中所示,在一些實施例中,第一導管104可耦接至安瓿102以便來自固態前驅物的昇華的前驅物可以經抽取穿過安瓿102中的開口進入第一導管104。昇華的前驅物可以與流經第一導管104的第一氣體混合,以從第一氣體及昇華的前驅物形成濃縮前驅物氣體混合物。 返回至第1A圖,第一氣體的流量可由第一流量控制器110控制。第一流量控制器可以在第一導管104的第一末端106與安瓿102之間耦接至第一導管104。第一流量控制器110可為質量流量控制器或類似裝置。 第二導管112可在位於安瓿102下游的第一接合處114耦接至第一導管104。如本文所使用,術語「接合處」可包括導管之多個流動路徑或區段的交集,諸如藉由T形連接或導管的區段、諸如允許選擇第一或者第二路徑的閥的選擇性閥,或類似物。第二導管112可具有耦接至第二氣源118的第一末端116。第二導管112可具有耦接至處理腔室122的第二末端120。第二氣源118可提供第二氣體以在第一接合114處稀釋進入第二導管112的濃縮前驅物氣體混合物。 在一些實施例中,氣體輸送系統100的各部分可能需要加熱,以汽化前驅物及/或將前驅物維持在汽化狀態。例如,熱源124可經配置以加熱安瓿102以及從安瓿102到第二導管112的第一接合處114的第一導管104的至少第一部分126。熱源124可是任何適合熱源,諸如加熱帶、強制氣流加熱櫃、熱交換器或類似裝置。此外且選擇性地,如第1A圖中所示,熱源124可加熱第一導管104的整體直到第一流量控制器110,或加熱該第一導管的整體直到第一氣源108(未圖示)。在一些實施例中,第一導管104可加熱直到第一氣源108。在該等實施例中,流量控制器應經配置以用於在加熱環境中操作。在一些實施例中,可提供封閉的加熱環境160以促進系統的有效率加熱。例如,在一些實施例中,封閉的加熱環境可包括包殼以包含或圍繞該等加熱部件及該導管的各部分。此等實施例可促進更均勻的加熱以及更高的效率。然而,使用包殼可造成系統耗費更久時間才達到穩定。在一些實施例中,封閉的加熱環境160可包括熱交換器類型的熱浴,使得系統的部分設置在該熱浴中加熱。由該熱浴提供的高熱質量及熱穩定可幫助減少嚴重過熱的可能性,該嚴重過熱可導致前驅物的分解。 熱源124可經配置以僅加熱第二導管112的第二部分128,其中第二部分128包括第一接合處114。如第1A圖中所示,第二部分128可在第一接合處114之兩側上延伸,或可僅在第一接合處114的下游延伸(未圖示)。第二導管112的第二部分128可包括某部分,在該部分中接收自第一導管104的濃縮前驅物氣體混合物與第二氣體混合以形成稀釋前驅物氣體混合物。如以上所論述,需要加熱濃縮前驅物氣體混合物以防止前驅物從該濃縮前驅物氣體混合物中凝結出來。然而,一旦在例如大約25攝氏溫度的室溫下前驅物的分壓低於該前驅物的蒸氣壓,則該前驅物凝結的可能性可能受限。例如,藉由將第二氣體與該濃縮前驅物氣體混合物混合,對於該前驅物的分壓的如此條件可在第二導管112的第二部分128中新形成的稀釋前驅物氣體混合物中實現。因此,在室溫下,在稀釋前驅物氣體混合物中的前驅物的分壓可小於該前驅物的蒸氣壓。因此,第二導管112的剩餘部分(亦即第二部分128下游的第二導管112的部分)可能需要更少加熱或可能不須加熱,因為自稀釋前驅物氣體混合物的前驅物的凝結或許可以更少。 第二導管112可包括耦接至該第二導管112的第二流量控制器130。在一些實施例中,例如如第1A圖中所示,第二流量控制器130設置在第二導管112的第一末端116與第一接合處114之間,或設置在該第一接合處114的上游。例如,在圖示於第1A圖中之實施例中,第二流量控制器130以期望流動速率提供該第二氣體,以在第二導管112的第二部分128中與濃縮前驅物氣體混合物混合。 此外,在一些實施例中,諸如第1A圖所示,第二導管112可包括調壓器132,該調壓器132在第一接合處114與第二導管112的第二末端120之間設置於該第二導管112中,以調節第一接合處114第二流量控制器130之間的(例如在調壓器132上游的)第二導管112中的氣壓。在一些實施例中,在使用如第1A圖所示之實施例的第二導管112中的氣壓可為約200托。例如,調壓器132對於防止第二導管112中的氣壓波動是必需的,因為若該第二導管112直接暴露於處理腔室122的氣壓下,則該第二導管112中會發生氣壓波動。例如,處理腔室122中的氣壓由於正執行的各種製程可能經常發生變化,該等正執行製程可在處理腔室122中引入製程氣體或該等製程需要處理腔室122中的氣壓發生變化。調壓器132的存在可穩定第二導管112中的氣壓,例如,該氣壓可導致一致的及可再生的前驅物加載在可流向處理腔室122的稀釋前驅物氣體混合物中。 或者,第二流量控制器130及調壓器132可如第1B圖中所示般進行配置。例如,如第1B圖中所示,第二流量控制器130可設置在該第一接合處114與該第二導管的第二末端120之間,或設置在該第一接合處114的下游。例如,在如第1B圖中所示之實施例中,第二流量控制器130可向處理腔室122提供該稀釋前驅物氣體混合物的期望流動速率。如第1B圖中所示之第二流量控制器130的下游定位可藉由本發明之方法及設備實現。例如,流量控制器(諸如質量流量控制器)通常不用於前驅物氣體混合物的下游,此是因為前驅物氣體混合物可發生凝結導致氣體混合物至處理腔室之輸送的不準確性或對流量控制器造成破壞。然而,如本文中所論述,本發明之方法及設備減少或消除該稀釋前驅物氣體混合物中的前驅物凝結的可能性,從而在沒有在流量控制器中形成凝結伴隨的風險的情況下實現流量控制器的下游定位。 如第1B圖中所示,且亦為對第1A圖之替代,調壓器可設置在第二導管112的第一末端116與第一接合處114之間以調節在調節器132與第二流量控制器130之間的第二導管112中的氣壓。在一些實施例中,第二導管112中的氣壓可高於第1A圖之實施例中的氣壓,例如,至少大約500托。第二導管112中的氣壓可高於第1B圖之實施例中的氣壓以提供充分的上游氣壓至第二流量控制器130以用於精確操作。在一些實施例中,第二導管112中足以操作第二流量控制器的上游氣壓可為至少約500托。 在一些實施例中,氣體輸送系統100可包括在第二導管112的第二部分128下游的即時監控裝置。該即時監控裝置可串聯設置或沿取樣管道(例如,如以下論述之第三導管134)設置。該即時監控裝置可藉由本發明之方法及設備賦能。例如,稀釋前驅物氣體混合物中的前驅物的低濃度及在第二部分128外的第二導管112中加熱的缺失可賦能氣體輸送系統100中的即時監控裝置。 第三導管134可在第一接合處114與調壓器132中的氣之間耦接至第二導管(如第1A圖中所示),或該第三導管134可在第一接合處114與在第二接合處136的第二流量控制器130之間耦接至第二導管(如第1B圖中所示)。第三導管134可具有第一末端138及第二末端140,該第一末端138耦接至第二接合處136且該第二末端140耦接至氣孔142。氣孔142可為(例如)耦接至減弱系統或類似系統的排氣管道或類似物。 即時監控裝置可為耦接至第三導管134的濃度感測器144。該濃度感測器可為用於決定諸如Piezocon®管道中之一管道內的濃度的任何適合感測器,該等Piezocon®管道可從紐約的Poughkeepsie的Lorex Industries,Inc購得。該濃度感測器144可決定經由第二導管112流向處理腔室122的稀釋前驅物氣體混合物中的前驅物的濃度。例如,流量限制器146可在濃度感測器144與氣孔142之間設置於第三導管134中,以限制流向在第二接合處136的第三導管134的稀釋前驅物氣體混合物的流量142之間設置於第三導管體混合物的實質部分向處理腔室122流動。因為混合後的濃度非常低且該取樣管道流動受限,所以限制了由取樣造成的蒸氣浪費。又,因為濃度感測器144掉線,發生的任何凝結問題將極少造成問題或不造成問題。又,在濃度感測器144上執行的任何維持服務將對氣體輸送系統100的主要操作造成最小的影響。 氣體輸送系統100可包括接近第二導管112的第二末端120的第三接合處148。第四導管149具有第一末端及第二末端,該第一末端耦接至第三接合處148且該第二末端耦接至氣孔150。在一些實施例中,氣孔142及氣孔150可為相同的排氣管,或氣孔142及氣孔150可耦接至同一排氣管。類似地,氣孔150可耦接至減弱系統或類似系統。第三接合處148可包括用於在至處理腔室122流動與至第四導管149(及氣孔150)流動之間做選擇的閥(未圖示)。例如,此類型的選擇性流動可在處理腔室122的處理期間使用,以使得前驅物在處理腔室122的處理時段內連續汽化,以限制諸如在稀釋前驅物氣體混合物或類似物的濃度的變化,否則該等變化會由啟動及停止第一氣體或類似物的流動引起。 控制器152可以直接(如第1A圖中所示)耦接至處理腔室122及/或諸如氣體輸送系統100之支撐系統,或者替代性地,控制器152可以經由與處理腔室及/或支撐系統相連的電腦(或控制器)耦接至處理腔室122及/或諸如氣體分配系統100之支撐系統。控制器152可以是任何形式的通用電腦處理器中之一個處理器,該處理器可用於用來控制各種腔室及子處理器的工業設定中。記憶體或中央處理器(CPU)156的電腦可讀取媒體154可以是一或更多種立即可用記憶體,諸如隨機存取記憶體(RAM)、唯讀記憶體(ROM)、軟碟、硬碟或任何其他形式的本端或遠端數位儲存器。記憶體154可儲存將由處理腔室122及/或諸如該氣體輸送系統100之各種支撐系統執行的常式。示範性常式可包括如下所述的用於輸送前驅物至處理腔室122的方法300。支撐電路158耦接至CPU 156,用於以傳統方式支持處理器。該等電路包括快取記憶體、電源、時脈電路、輸入/輸出電路及子系統或類似物。 第3圖描繪輸送前驅物至諸如該處理腔室122之處理腔室的方法300的流程圖。下文參照第1A圖至第1B圖及第2A圖至第2B圖描述該方法300。當使第一氣體流動以在第一加熱容積中形成濃縮前驅物氣體混合物時,該方法300藉由汽化該前驅物從302處開始。第一加熱容積可包括第一導管104及安瓿102。第一氣體,如以上所論述,可由第一氣源108提供。第一氣體可包括載氣,諸如惰性氣體。在一些實施例中,第一氣體可為氮氣(N2)、氫氣(H2)、氬氣(Ar)、氦氣(He)或類似氣體中之一或更多種氣體。第一氣體的流量可以由第一流量控制器110控制。如以下所論述,第一氣體的流量可以反應於在稀釋前驅物氣體混合物中取樣的前驅物的濃度進行調整,該稀釋前驅物氣體混合物在步驟302處的第一加熱容積中形成的濃縮前驅物氣體混合物的下游形成。 前驅物可以藉由交替法汽化。例如,如以上所論述,前驅物可以是液態的。因此,在一些實施例中,如第2A圖中所圖示,第一氣體可以流入容納前驅物的第一加熱容積的部分(例如,安瓿102)。第一氣體可以泡狀地進入液體前驅物以形成濃縮前驅物氣體混合物。或者,如以上所論述,前驅物可以是固態的。因此,在一些實施例中,如第2B圖中所圖示,該固態前驅物可昇華及進入第一導管104,在該第一導管104中,昇華的前驅物與流動的第一氣體混合以形成濃縮前驅物氣體混合物。 在步驟304處,在第二加熱容積(例如,第二部分128)中,濃縮前驅物氣體混合物可與第二氣體混合以形成稀釋前驅物氣體混合物。如以上所論述,第二氣體可以由第二氣源118提供。第二氣體可與第一氣體相同。在一些實施例中,第二氣體可是氮氣(N2)、氫氣(H2)、氬氣(Ar)、氦氣(He)或類似氣體中之一或更多種氣體。第二氣體可不同於第一氣體。然而,提供不同的第二氣體引入更多複雜性,使得下游的濃度監控更困難,此是因為提供不同的第二氣體所得的氣體將是三種成分的混合物而不是兩種成分的混合物。 第二氣體可以高於第一氣體之流動速率的流動速率流動。例如,第二氣體的流動速率可以是第一氣體的流動速率的大約5倍或5倍以上。第二氣體的較高流動速率可由本發明實現。由於氣流中飛濺或夾帶粒子的風險,通常,向安瓿提供單根管道來輸送前驅物,從而限制載氣的最大流動速率。然而,相反地,本發明之氣體輸送系統10第二氣體可以由第二氣源118提供。第二氣體可與102。因此,可迫使減少流動速率的情況,諸如安瓿102中前驅物的飛濺或類似情況,可以在氣體輸送系統100中避免。因此,第二導管112中第二氣體的流動速率(及因此氣體輸送系統的總流動速率)可高於一般氣體輸送系統中的流動速率。第二氣體的較高流動速率可有利地改良氣體輸送系統中的反應時間,使該反應時間高達一般氣體輸送系統中的反應時間的大約100倍。 在步驟306處,稀釋前驅物氣體混合物可經由非加熱第三容積(例如,第二導管112的剩餘部分、第二部分128的下游)流動至處理腔室122。如以上所論述,在第二加熱容積中形成的稀釋前驅物氣體混合物可具有前驅物的分壓,在室溫下,例如大約25攝氏溫度下,該分壓小於該前驅物的蒸氣壓。因此,稀釋前驅物氣體混合物在非加熱第三容積中可能不需要額外加熱,因為前驅物的凝結或許更少。 稀釋前驅物氣體混合物的氣壓可以在第二加熱容積及非加熱第三容積中調節。例如,如在第1A圖中所示,稀釋前驅物氣體混合物的氣壓可在第二流量控制器130的下游調節,該第二流量控制器130用來控制來自第二氣源118的第二氣體的流量。或者,如第1B圖中所示,稀釋前驅物氣體混合物的氣壓可在第二流量控制器130的上游調節,在該第二流量控制器130的上游處,第二流量控制器可用來控制流向處理腔室122及第二氣源118的下游的稀釋前驅物氣體混合物的流量,該第二氣源118用於將第二氣體提供至第二容積。 稀釋前驅物氣體混合物可選擇性地流向處理腔室122。例如,稀釋前驅物氣體混合物可選擇性地流向處理腔室122或氣孔150。例如,流向處理腔室122及氣孔150的流量可根據在處理腔室122中執行的製程(諸如沈積製程、循環沈積製程或類似製程)進行交替。 在一些實施例中,該方法300可包括例如使用取樣管道(例如,第三導管134)自第三容積中取樣稀釋前驅物氣體混合物的部分。稀釋前驅物氣體混合物的部分的取樣可以第一流動速率發生,該第一流動速率比流向處理腔室122的稀釋前驅物氣體混合物的第二部分的第二流動速率慢。例如,流量限制器146可促進在第一及第二流動速率之間的不一致,以確保該稀釋前驅物氣體混合物的實質部分流向處理腔室122。在稀釋前驅物氣體混合物中的前驅物的濃度可由例如使用如以上所論述之濃度感測器144決定。 若該稀釋前驅物氣體混合物中的該前驅物的經決定濃度不在期望容許位準內,控制前驅物濃度的氣體輸送系統的參數可做調整。例如,第一或第二加熱容積的加熱溫度、第一氣體的流動速率、第二氣體的流動速率或第二加熱容積及第三非加熱容積中的氣壓中之至少一者可進行調整直到達到期望容許位準。在一些實施例中,可增加第一氣流,以使得最終混合物中的前驅物的數量增加。控制第一氣體或第二氣體的流動速率可提供比控制加熱溫度更快的反應時間。例如,可能的最大流量將受前驅物的類型及溫度限制。除了提供足夠稀釋外,對第二氣體的流動速率沒有特殊要求。對於長管道中的氣體輸送,高達5 slm的總流動速率可合乎需要。然而,特定溫度及流動速率將取決於在使用中之系統及前驅物的特定配置。 因此,本文揭示用於氣體輸送之方法及設備。本發明之方法及設備有利地提供了固態或液態低蒸氣壓前驅物的高效率汽化及及精確輸送,同時減少了能量輸入成本並改良了輸送速率。 雖然上述係關於本發明之實施例,但是在不脫離本發明基本範疇的情況下亦可設計本發明之其他及進一步實施例。 100‧‧‧氣體輸送系統 102‧‧‧安瓿 104‧‧‧第一導管 106‧‧‧第一末端 108‧‧‧第一氣源 110‧‧‧第一流量控制器 112‧‧‧第二導管 114‧‧‧第一接合處 116‧‧‧第一末端 118‧‧‧第二氣源 120‧‧‧第二末端 122‧‧‧處理腔室 124‧‧‧熱源 126‧‧‧第一部分 128‧‧‧第二部分 130‧‧‧第二流量控制器 132‧‧‧調壓器 134‧‧‧第三導管 136‧‧‧第二接合處 138‧‧‧第一末端 140‧‧‧第二末端 142‧‧‧氣孔 144‧‧‧濃度感測器 146‧‧‧流量限制器 148‧‧‧第三接合處 149‧‧‧第四導管 150‧‧‧氣孔 152‧‧‧控制器 154‧‧‧電腦可讀取媒體 156‧‧‧中央處理器 158‧‧‧支撐電路 160‧‧‧加熱環境 202‧‧‧第一末端 204‧‧‧第二末端 300‧‧‧方法 302‧‧‧步驟 304‧‧‧步驟 306‧‧‧步驟 以上簡略概述及以下更詳細論述之本發明之實施例可藉由參閱附圖描繪的本發明之說明性實施例來理解。然而應注意,該等附圖僅圖示本發明之典型實施例,並且因此不欲視為限制本發明的範疇,因為本發明可承認其他等效的實施例。 第1A圖至第1B圖描繪根據本發明之一些實施例的氣體輸送系統。 第2A圖至第2B圖描繪根據本發明之一些實施例的用於容納及汽化前驅物的替代設備。 第3圖描繪根據本發明之一些實施例之輸送前驅物的方法的流程圖。 為了促進理解,已經儘可能使用相同元件符號表示各附圖中共有的相同元件。該等附圖並非按比例繪製且可為了清晰而簡化。預期一個實施例之元件及特徵結構在無進一步敍述的情況下可以有利地併入其他實施例中。 100‧‧‧氣體輸送系統 102‧‧‧安瓿 104‧‧‧第一導管 106‧‧‧第一末端 108‧‧‧第一氣源 110‧‧‧第一流量控制器 112‧‧‧第二導管 114‧‧‧第一接合處 116‧‧‧第一末端 118‧‧‧第二氣源 120‧‧‧第二末端 122‧‧‧處理腔室 124‧‧‧熱源 126‧‧‧第一部分 128‧‧‧第二部分 130‧‧‧第二流量控制器 132‧‧‧調壓器 134‧‧‧第三導管 136‧‧‧第二接合處 138‧‧‧第一末端 140‧‧‧第二末端 142‧‧‧氣孔 144‧‧‧濃度感測器 146‧‧‧流量限制器 148‧‧‧第三接合處 149‧‧‧第四導管 150‧‧‧氣孔 152‧‧‧控制器 154‧‧‧電腦可讀取媒體 156‧‧‧中央處理器 158‧‧‧支撐電路 160‧‧‧加熱環境
权利要求:
Claims (17) [1] 一種氣體輸送系統,該氣體輸送系統包含:一安瓿,該安瓿用於儲存一固態或液態前驅物;一第一導管,該第一導管耦接至該安瓿且該第一導管具有一第一末端,該第一末端耦接至一第一氣源以將該前驅物的一蒸氣從該安瓿抽取到該第一導管中;一第二導管,該第二導管在位於該安瓿下游的一第一接合處耦接至該第一導管且該第二導管具有一第一末端及一第二末端,該第一末端耦接至一第二氣源且該第二末端耦接至一處理腔室;及一熱源,該熱源經配置以加熱該安瓿及從該安瓿至該第二導管的該第一導管的至少一第一部分,並且僅加熱該第二導管之一第二部分,其中該第二導管的該第二部分包括該第一接合處。 [2] 如請求項1所述之氣體輸送系統,該氣體輸送系統進一步包含:一第一流量控制器,該第一流量控制器在該第一導管的該第一末端與該安瓿之間耦接至該第一導管;及一第二流量控制器,該第二流量控制器耦接至該第二導管。 [3] 如請求項2所述之氣體輸送系統,其中該第二流量控制器設置在該第二導管的該第一末端與該第一接合處之間,且該第二流量控制器進一步包含:一調壓器,該調壓器在該第一接合處與該第二導管的該第二末端之間設置於該第二導管中,以調節在該調壓器與該第二流量控制器之間的該第二導管中的氣壓。 [4] 如請求項3所述之氣體輸送系統,該氣體輸送系統進一步包含:一第三導管,該第三導管在該第一接合處與位於一第二接合處的該調壓器之間耦接至該第二導管,該第三導管具有一第一末端及一第二末端,該第一末端耦接至該第二接合處且該第二末端耦接至一氣孔;一濃度感測器,該濃度感測器耦接至該第三導管以決定經由該第二導管流向該處理腔室的一前驅物氣體混合物中的一前驅物的濃度;及一流量限制器,該流量限制器在該濃度感測器與該第三導管的該第二末端之間設置於該第三導管中。 [5] 如請求項2所述之氣體輸送系統,其中該第二流量控制器設置在該第一接合處與該第二導管的該第二末端之間,且該第二流量控制器進一步包含:一調壓器,該調壓器設置在該第二導管的該第一末端與該第一接合處之間以調節在該調壓器與該第二流量控制器之間的該第二導管中的氣壓。 [6] 如請求項5所述之氣體輸送系統,該氣體輸送系統進一步包含:一第三導管,該第三導管在該第一接合處與位於一第二接合處的該第二流量控制器之間耦接至該第二導管,該第三導管具有一第一末端及一第二末端,該第一末端耦接至該第二接合處且該第二末端耦接至一氣孔;一濃度感測器,該濃度感測器耦接至該第三導管以決定經由該第二導管流向該處理腔室的一前驅物氣體混合物中的一前驅物的濃度;及一流量限制器,該流量限制器在該濃度感測器與該第三導管的第二末端之間設置於第三導管中。 [7] 如請求項1所述之氣體輸送系統,該氣體輸送系統進一步包含:一第三接合處,該第三接合位於或鄰近該第二導管的該第二末端;及一第四導管,該第四導管具有一第一末端及一第二末端,該第一末端耦接至該第三接合處且該第二末端耦接至一氣孔。 [8] 一種將一前驅物輸送至一處理腔室之方法,該方法包含以下步驟:當使一第一氣體流動時,汽化一前驅物以在一第一加熱容積中形成一濃縮前驅物氣體混合物;在一第二加熱容積中將該濃縮前驅物氣體混合物與一第二氣體混合,以形成一稀釋前驅物氣體混合物,其中在大約25攝氏溫度下,該稀釋前驅物氣體混合物中之該前驅物的分壓小於該前驅物的蒸氣壓;及使該稀釋前驅物氣體混合物經由一非加熱第三容積流動至一處理腔室。 [9] 如請求項8所述之方法,該方法進一步包含以下步驟:調節該第二加熱容積及一第二流量控制器的下游的該第三容積中的該稀釋前驅物氣體混合物之氣壓,該第二流量控制器用於控制來自一第二氣源的該第二氣體的流量。 [10] 如請求項8所述之方法,該方法進一步包含以下步驟:調節該第二加熱容積及一第二流量控制器的上游的該第三容積中的該稀釋前驅物氣體混合物之該氣壓,該第二流量控制器用於控制流向該處理腔室及一第二氣源的下游的該稀釋前驅物氣體混合物的流量,該第二氣源用於將該第二氣體提供至該第二容積。 [11] 如請求項8所述之方法,該方法進一步包含以下步驟:使用設置在一第一氣源與該第一加熱容積之間的一第一流量控制器來控制該第一加熱容積的上游的該第一氣體的流量,其中該第一氣源提供該第一氣體。 [12] 如請求項11所述之方法,其中汽化該前驅物之步驟進一步包含以下步驟:使該第一氣體流進容納該前驅物的該第一加熱容積的一部分中;及使該第一氣體以氣泡狀進入該液態前驅物以形成該濃縮前驅物氣體混合物。 [13] 如請求項11所述之方法,其中汽化該前驅物之步驟進一步包含以下步驟:使該前驅物昇華;及將該昇華的前驅物與該流動的第一氣體混合以形成該濃縮前驅物氣體混合物。 [14] 如請求項8所述之方法,其中使該稀釋前驅物氣體混合物流動至該處理腔室的步驟進一步包含以下步驟:在一腔室製程期間選擇性地使該稀釋前驅物氣體混合物流動至該處理腔室或一氣孔。 [15] 如請求項8所述之方法,該方法進一步包含以下步驟:自該第三容積取樣該稀釋前驅物氣體混合物的一部分;及決定該稀釋前驅物氣體混合物中的該前驅物的一濃度。 [16] 如請求項15所述之方法,其中取樣該稀釋前驅物氣體混合物之該部分的步驟進一步包含以下步驟:以一第一流動速率取樣該稀釋前驅物氣體混合物的該部分,該第一流動速率比流向該處理腔室的該稀釋前驅物氣體混合物的一第二部分的一第二流動速率慢。 [17] 如請求項15所述之方法,該方法進一步包含以下步驟:若該稀釋前驅物氣體混合物中之該前驅物的該經決定之濃度不在一期望容許度位準內,則調整該第一加熱容積或該第二加熱容積的加熱溫度、該第一氣體的流動速率或該第二氣體的流動速率中之至少一者。
类似技术:
公开号 | 公开日 | 专利标题 TWI509101B|2015-11-21|用於氣體輸送的方法及設備 TW202113141A|2021-04-01|成膜材料混合氣體形成裝置及成膜裝置 TWI525734B|2016-03-11|And a raw material gas supply device for a semiconductor manufacturing apparatus JP5837869B2|2015-12-24|原料気化供給装置 US20140124064A1|2014-05-08|Raw material vaporizing and supplying apparatus JP2007258405A|2007-10-04|基板処理方法および基板処理装置 AU2012364053B2|2015-07-09|Coal deactivation treatment device JP2012234860A5|2013-08-15| JP2016040402A|2016-03-24|原料ガス供給装置 TWI572736B|2017-03-01|前驅物輸送的方法與裝置 WO2013046517A1|2013-04-04|気化器 JP2005286054A|2005-10-13|液体材料供給装置、液体材料供給装置のための制御方法 JP4418001B2|2010-02-17|原料供給装置 TW201627055A|2016-08-01|用於氟減量之真空前級管線試劑添加 JP5281364B2|2013-09-04|材料ガス濃度制御システム JP2008248395A|2008-10-16|プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の調圧方法 JP2010527794A|2010-08-19|プロセスガスの濃度制御方法 JP2007027567A|2007-02-01|プラズマ処理装置 JP4052506B2|2008-02-27|基板処理装置 JP2007314863A|2007-12-06|ガス分離装置及び成膜装置 KR950007197B1|1995-07-03|수증기의 공급장치 및 그 제어방법 TW201022468A|2010-06-16|Apparatus for supplying source gas JP5198426B2|2013-05-15|洗浄装置及びオゾン水生成装置 JP2004087952A|2004-03-18|表面処理用ガス供給装置 KR20090054016A|2009-05-29|반도체 제조설비의 가스공급장치
同族专利:
公开号 | 公开日 KR20140030221A|2014-03-11| KR101691374B1|2016-12-30| WO2012149327A3|2013-03-21| WO2012149327A2|2012-11-01| CN103518005B|2015-12-02| CN103518005A|2014-01-15| US20120273052A1|2012-11-01| US20120272898A1|2012-11-01| TWI509101B|2015-11-21| US9200367B2|2015-12-01| US8927066B2|2015-01-06|
引用文献:
公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题 TWI671833B|2014-07-15|2019-09-11|美商蘭姆研究公司|用以改良沉積速率均勻性及減少基板處理系統中的缺陷之系統及方法|US3701682A|1970-07-02|1972-10-31|Texas Instruments Inc|Thin film deposition system| US3829382A|1970-09-02|1974-08-13|Monsanto Co|Doping control for semiconductor materials| US5186120A|1989-03-22|1993-02-16|Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha|Mixture thin film forming apparatus| US5098741A|1990-06-08|1992-03-24|Lam Research Corporation|Method and system for delivering liquid reagents to processing vessels| JPH05234917A|1992-02-21|1993-09-10|Sumitomo Metal Ind Ltd|半導体薄膜の形成方法及びその装置| US5630878A|1994-02-20|1997-05-20|Stec Inc.|Liquid material-vaporizing and supplying apparatus| US5531183A|1994-07-13|1996-07-02|Applied Materials, Inc.|Vaporization sequence for multiple liquid precursors used in semiconductor thin film applications| US6244575B1|1996-10-02|2001-06-12|Micron Technology, Inc.|Method and apparatus for vaporizing liquid precursors and system for using same| US5968588A|1997-03-17|1999-10-19|Applied Materials, Inc.|In-situ liquid flow rate estimation and verification by sonic flow method| US6174371B1|1997-10-06|2001-01-16|Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd.|Substrate treating method and apparatus| US5980608A|1998-01-07|1999-11-09|Advanced Technology Materials, Inc.|Throughflow gas storage and dispensing system| US6136725A|1998-04-14|2000-10-24|Cvd Systems, Inc.|Method for chemical vapor deposition of a material on a substrate| US6033479A|1998-04-22|2000-03-07|Applied Materials, Inc.|Process gas delivery system for CVD having a cleaning subsystem| KR100273474B1|1998-09-14|2000-12-15|이경수|화학기상 증착장치의 가스 공급장치와 그 제어방법| US20030101938A1|1998-10-27|2003-06-05|Applied Materials, Inc.|Apparatus for the deposition of high dielectric constant films| US6454860B2|1998-10-27|2002-09-24|Applied Materials, Inc.|Deposition reactor having vaporizing, mixing and cleaning capabilities| US6548112B1|1999-11-18|2003-04-15|Tokyo Electron Limited|Apparatus and method for delivery of precursor vapor from low vapor pressure liquid sources to a CVD chamber| DE10005820C1|2000-02-10|2001-08-02|Schott Glas|Gasversorungsvorrichtung für Precursoren geringen Dampfdrucks| US6887337B2|2000-09-19|2005-05-03|Xactix, Inc.|Apparatus for etching semiconductor samples and a source for providing a gas by sublimation thereto| US6926774B2|2001-11-21|2005-08-09|Applied Materials, Inc.|Piezoelectric vaporizer| US7279432B2|2002-04-16|2007-10-09|Applied Materials, Inc.|System and method for forming an integrated barrier layer| US6756325B2|2002-05-07|2004-06-29|Agilent Technologies, Inc.|Method for producing a long wavelength indium gallium arsenide nitride active region| JP3973605B2|2002-07-10|2007-09-12|東京エレクトロン株式会社|成膜装置及びこれに使用する原料供給装置、成膜方法| US6955211B2|2002-07-17|2005-10-18|Applied Materials, Inc.|Method and apparatus for gas temperature control in a semiconductor processing system| US6915592B2|2002-07-29|2005-07-12|Applied Materials, Inc.|Method and apparatus for generating gas to a processing chamber| US6868869B2|2003-02-19|2005-03-22|Advanced Technology Materials, Inc.|Sub-atmospheric pressure delivery of liquids, solids and low vapor pressure gases| US20050056216A1|2003-09-15|2005-03-17|Intel Corporation|Precursor delivery system| US20050095859A1|2003-11-03|2005-05-05|Applied Materials, Inc.|Precursor delivery system with rate control| US20060068098A1|2004-09-27|2006-03-30|Tokyo Electron Limited|Deposition of ruthenium metal layers in a thermal chemical vapor deposition process| US7628861B2|2004-12-17|2009-12-08|Mks Instruments, Inc.|Pulsed mass flow delivery system and method| US7485338B2|2005-03-31|2009-02-03|Tokyo Electron Limited|Method for precursor delivery| US7345184B2|2005-03-31|2008-03-18|Tokyo Electron Limited|Method and system for refurbishing a metal carbonyl precursor| US7562672B2|2006-03-30|2009-07-21|Applied Materials, Inc.|Chemical delivery apparatus for CVD or ALD| US7775508B2|2006-10-31|2010-08-17|Applied Materials, Inc.|Ampoule for liquid draw and vapor draw with a continuous level sensor| US7846256B2|2007-02-23|2010-12-07|Tokyo Electron Limited|Ampule tray for and method of precursor surface area| JP5074073B2|2007-03-30|2012-11-14|東京エレクトロン株式会社|粉体状ソース供給系の洗浄方法、記憶媒体、基板処理システム及び基板処理方法| US20090205538A1|2008-01-24|2009-08-20|Thompson David M|Organometallic compounds, processes for the preparation thereof and methods of use thereof| US20090214777A1|2008-02-22|2009-08-27|Demetrius Sarigiannis|Multiple ampoule delivery systems| JP5179339B2|2008-12-22|2013-04-10|東京エレクトロン株式会社|混合ガスの供給方法及び混合ガスの供給装置| US20100305884A1|2009-05-22|2010-12-02|Applied Materials, Inc.|Methods for determining the quantity of precursor in an ampoule| CN102021531B|2009-09-09|2012-12-05|北大方正集团有限公司|一种氮化硅薄膜的生成装置及方法| JP5554142B2|2010-05-14|2014-07-23|株式会社豊田中央研究所|半導体膜の気相成長方法| US8734903B2|2011-09-19|2014-05-27|Pilkington Group Limited|Process for forming a silica coating on a glass substrate|US9394608B2|2009-04-06|2016-07-19|Asm America, Inc.|Semiconductor processing reactor and components thereof| US8802201B2|2009-08-14|2014-08-12|Asm America, Inc.|Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species| US9017481B1|2011-10-28|2015-04-28|Asm America, Inc.|Process feed management for semiconductor substrate processing| US11015245B2|2014-03-19|2021-05-25|Asm Ip Holding B.V.|Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof| CN204857653U|2014-06-20|2015-12-09|应用材料公司|具有分隔的供气管线的等离子体处理腔室及等离子体处理系统| US10858737B2|2014-07-28|2020-12-08|Asm Ip Holding B.V.|Showerhead assembly and components thereof| US9890456B2|2014-08-21|2018-02-13|Asm Ip Holding B.V.|Method and system for in situ formation of gas-phase compounds| US10941490B2|2014-10-07|2021-03-09|Asm Ip Holding B.V.|Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same| US9951423B2|2014-10-07|2018-04-24|Lam Research Corporation|Systems and methods for measuring entrained vapor| US10458018B2|2015-06-26|2019-10-29|Asm Ip Holding B.V.|Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same| SG11201802143QA|2015-09-30|2018-04-27|Hitachi Int Electric Inc|Substrate treatment apparatus, method for manufacturing semiconductor device, and recording medium| US10211308B2|2015-10-21|2019-02-19|Asm Ip Holding B.V.|NbMC layers| US11139308B2|2015-12-29|2021-10-05|Asm Ip Holding B.V.|Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices| US10865475B2|2016-04-21|2020-12-15|Asm Ip Holding B.V.|Deposition of metal borides and silicides| US10190213B2|2016-04-21|2019-01-29|Asm Ip Holding B.V.|Deposition of metal borides| KR102306693B1|2016-04-25|2021-09-28|어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드|자기-조립 단분자층 프로세스들을 위한 화학물질 전달 챔버| US10367080B2|2016-05-02|2019-07-30|Asm Ip Holding B.V.|Method of forming a germanium oxynitride film| JP6409021B2|2016-05-20|2018-10-17|日本エア・リキード株式会社|昇華ガス供給システムおよび昇華ガス供給方法| US9859151B1|2016-07-08|2018-01-02|Asm Ip Holding B.V.|Selective film deposition method to form air gaps| US10714385B2|2016-07-19|2020-07-14|Asm Ip Holding B.V.|Selective deposition of tungsten| KR20180013034A|2016-07-28|2018-02-07|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 가공 장치 및 그 동작 방법| US9887082B1|2016-07-28|2018-02-06|Asm Ip Holding B.V.|Method and apparatus for filling a gap| US10643826B2|2016-10-26|2020-05-05|Asm Ip Holdings B.V.|Methods for thermally calibrating reaction chambers| US10714350B2|2016-11-01|2020-07-14|ASM IP Holdings, B.V.|Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures| US10229833B2|2016-11-01|2019-03-12|Asm Ip Holding B.V.|Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures| KR20180054366A|2016-11-15|2018-05-24|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치| KR20180068582A|2016-12-14|2018-06-22|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 처리 장치| KR20180070971A|2016-12-19|2018-06-27|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 처리 장치| US10269558B2|2016-12-22|2019-04-23|Asm Ip Holding B.V.|Method of forming a structure on a substrate| US10867788B2|2016-12-28|2020-12-15|Asm Ip Holding B.V.|Method of forming a structure on a substrate| KR20180119477A|2017-04-25|2018-11-02|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법| US10892156B2|2017-05-08|2021-01-12|Asm Ip Holding B.V.|Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures| US10886123B2|2017-06-02|2021-01-05|Asm Ip Holding B.V.|Methods for forming low temperature semiconductor layers and related semiconductor device structures| US10685834B2|2017-07-05|2020-06-16|Asm Ip Holdings B.V.|Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures| KR20190009245A|2017-07-18|2019-01-28|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물| US10541333B2|2017-07-19|2020-01-21|Asm Ip Holding B.V.|Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures| US11018002B2|2017-07-19|2021-05-25|Asm Ip Holding B.V.|Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures| US10770336B2|2017-08-08|2020-09-08|Asm Ip Holding B.V.|Substrate lift mechanism and reactor including same| US11139191B2|2017-08-09|2021-10-05|Asm Ip Holding B.V.|Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith| KR20190023920A|2017-08-30|2019-03-08|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 처리 장치| US11056344B2|2017-08-30|2021-07-06|Asm Ip Holding B.V.|Layer forming method| KR20190033455A|2017-09-21|2019-03-29|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치| US10844484B2|2017-09-22|2020-11-24|Asm Ip Holding B.V.|Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods| US10403504B2|2017-10-05|2019-09-03|Asm Ip Holding B.V.|Method for selectively depositing a metallic film on a substrate| US10319588B2|2017-10-10|2019-06-11|Asm Ip Holding B.V.|Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition| US10923344B2|2017-10-30|2021-02-16|Asm Ip Holding B.V.|Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures| US10910262B2|2017-11-16|2021-02-02|Asm Ip Holding B.V.|Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure| US11022879B2|2017-11-24|2021-06-01|Asm Ip Holding B.V.|Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer| CN111316417A|2017-11-27|2020-06-19|阿斯莫Ip控股公司|与批式炉偕同使用的用于储存晶圆匣的储存装置| US10872771B2|2018-01-16|2020-12-22|Asm Ip Holding B. V.|Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures| US11018047B2|2018-01-25|2021-05-25|Asm Ip Holding B.V.|Hybrid lift pin| USD880437S1|2018-02-01|2020-04-07|Asm Ip Holding B.V.|Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus| US11081345B2|2018-02-06|2021-08-03|Asm Ip Holding B.V.|Method of post-deposition treatment for silicon oxide film| US10896820B2|2018-02-14|2021-01-19|Asm Ip Holding B.V.|Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process| US10731249B2|2018-02-15|2020-08-04|Asm Ip Holding B.V.|Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus| US10975470B2|2018-02-23|2021-04-13|Asm Ip Holding B.V.|Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment| US11114283B2|2018-03-16|2021-09-07|Asm Ip Holding B.V.|Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same| KR20190113580A|2018-03-27|2019-10-08|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조| US11230766B2|2018-03-29|2022-01-25|Asm Ip Holding B.V.|Substrate processing apparatus and method| US11088002B2|2018-03-29|2021-08-10|Asm Ip Holding B.V.|Substrate rack and a substrate processing system and method| KR20190114682A|2018-03-30|2019-10-10|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 처리 방법| KR20190129718A|2018-05-11|2019-11-20|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 상에 피도핑 금속 탄화물 막을 형성하는 방법 및 관련 반도체 소자 구조| US10797133B2|2018-06-21|2020-10-06|Asm Ip Holding B.V.|Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures| KR20200002519A|2018-06-29|2020-01-08|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법| US10612136B2|2018-06-29|2020-04-07|ASM IP Holding, B.V.|Temperature-controlled flange and reactor system including same| US10755922B2|2018-07-03|2020-08-25|Asm Ip Holding B.V.|Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition| US10767789B2|2018-07-16|2020-09-08|Asm Ip Holding B.V.|Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components| US11053591B2|2018-08-06|2021-07-06|Asm Ip Holding B.V.|Multi-port gas injection system and reactor system including same| US10883175B2|2018-08-09|2021-01-05|Asm Ip Holding B.V.|Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein| US10829852B2|2018-08-16|2020-11-10|Asm Ip Holding B.V.|Gas distribution device for a wafer processing apparatus| US11024523B2|2018-09-11|2021-06-01|Asm Ip Holding B.V.|Substrate processing apparatus and method| US11049751B2|2018-09-14|2021-06-29|Asm Ip Holding B.V.|Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith| US11232963B2|2018-10-03|2022-01-25|Asm Ip Holding B.V.|Substrate processing apparatus and method| US10847365B2|2018-10-11|2020-11-24|Asm Ip Holding B.V.|Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD| US10811256B2|2018-10-16|2020-10-20|Asm Ip Holding B.V.|Method for etching a carbon-containing feature| KR20200045067A|2018-10-19|2020-05-04|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 처리 장치 및 기판 처리 방법| US11087997B2|2018-10-31|2021-08-10|Asm Ip Holding B.V.|Substrate processing apparatus for processing substrates| US11031242B2|2018-11-07|2021-06-08|Asm Ip Holding B.V.|Methods for depositing a boron doped silicon germanium film| US10847366B2|2018-11-16|2020-11-24|Asm Ip Holding B.V.|Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process| US10818758B2|2018-11-16|2020-10-27|Asm Ip Holding B.V.|Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures| US11217444B2|2018-11-30|2022-01-04|Asm Ip Holding B.V.|Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film| US11158513B2|2018-12-13|2021-10-26|Asm Ip Holding B.V.|Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures| KR20200091543A|2019-01-22|2020-07-31|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|기판 처리 장치| CN111524788A|2019-02-01|2020-08-11|Asm Ip私人控股有限公司|氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法| JP2020136678A|2019-02-20|2020-08-31|エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー|基材表面内に形成された凹部を充填するための方法および装置| KR20200102352A|2019-02-20|2020-08-31|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치| KR20200108243A|2019-03-08|2020-09-17|에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이.|SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법| USD935572S1|2019-05-24|2021-11-09|Asm Ip Holding B.V.|Gas channel plate| USD922229S1|2019-06-05|2021-06-15|Asm Ip Holding B.V.|Device for controlling a temperature of a gas supply unit| USD931978S1|2019-06-27|2021-09-28|Asm Ip Holding B.V.|Showerhead vacuum transport| US11227782B2|2019-07-31|2022-01-18|Asm Ip Holding B.V.|Vertical batch furnace assembly| USD940837S1|2019-08-22|2022-01-11|Asm Ip Holding B.V.|Electrode| USD930782S1|2019-08-22|2021-09-14|Asm Ip Holding B.V.|Gas distributor|
法律状态:
优先权:
[返回顶部]
申请号 | 申请日 | 专利标题 US13/097,831|US8927066B2|2011-04-29|2011-04-29|Method and apparatus for gas delivery| 相关专利
Sulfonates, polymers, resist compositions and patterning process
Washing machine
Washing machine
Device for fixture finishing and tension adjusting of membrane
Structure for Equipping Band in a Plane Cathode Ray Tube
Process for preparation of 7 alpha-carboxyl 9, 11-epoxy steroids and intermediates useful therein an
|